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用Ansys CFD模拟晶圆单片清洗工艺,替代物理试验实测

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晶圆单片清洗工艺,需求爆发下的 “精度竞赛”

在半导体制造 “向更小节点、更大晶圆”冲刺的赛道上,“清洗” 这一看似基础的工艺,正成为决定芯片良率的关键一环。尤其是随着 7nm 及以下先进制程普及、12 英寸晶圆成为主流,传统批量清洗已难以满足“无损伤、零残留、高均匀”的严苛要求,单片清洗工艺应运而生并快速成为行业标配。

清洗均匀性控制难:喷淋臂的喷嘴布局、流体压力 / 流量不均,易导致晶圆中心与边缘的化学液膜厚度差异(偏差需控制在 5% 以内),引发局部残留或过度腐蚀;

多参数协同优化难:化学液浓度、温度、喷淋压力、晶圆转速等参数相互耦合(如温度升高 1℃可能导致流体粘度下降 10%),单变量试错需耗费数月时间,且难以找到全局最优解。

而 Ansys CFD 仿真工具,正以其对复杂流场、多物理场的精准模拟能力,为单片清洗工艺的研发与优化提供 “数字试验场” 支撑,加速半导体制造向更高精度突破。

仿真模型描述及核心设置

采用Fluent Meshing WTM流程话生成pole-hexcore网格,体网格144万,喷嘴流域和下端的腔体区域独立网格划分,在fluent中通过interface交界面形式来自动实现数据传递。

清洗工艺中涉及到的最核心的物理模型是VOF多相流以及EWF欧拉壁面膜模型,其中主相为air,次相为water,相间表面张力系数为0.072N/m,同时勾选wall adhesion考虑壁面亲疏水性。


   VOF设置窗口                        相间作用设置窗口图片
 


   EWF壁面膜设置窗口     EWF壁面膜求解窗口图片
 

喷嘴流域移动速度定义:

对于随时间变化的移动速度,可以直接利用表格数据的方式来定义,然后通过profile窗口读入,支持.csv/.prof/.ttab等几种格式的导入,fluent会自动识别其变量。


   表格内容                     读入窗口图片
 

在指定运动区域设置mesh motion,并给定其平移速度:


   图片
 

入口清洗液的体积流量为5871.6 m3/h,转换成入口速度1.32629385m/s,清洗液相的入口体积分数为1


   图片
 

出口清洗液相回流体积分数为0


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wafer衬底旋转速度为1000RPM,旋转转轴为y轴,同时设置壁面接触角为60°,考虑其亲水性。


   图片
 

wafer衬底表面上的初始液膜厚度为0,这里的相互作用,Filmto VOF 和 VOF to Film 控制液膜与主体流场中 VOF 相之间的质量转化过程,Film to   VOF=0.5表示“液膜的某一特征(如液膜厚度、近壁剪切力、液膜内速度等)达到 0.5对应的临界值时,液膜开始向 VOF 相转化”,或    “每次迭代中,液膜有 50% 的比例会转化为 VOF 相”(具体依赖模型设定,但核心是液膜→主体流的转化阈值 / 比例),VOF to   film=0.1,表示 “当 VOF 相的某一特征(如近壁体积分数、冲击壁面的动量等)达到 0.1 对应的临界值时,VOF   相开始转化为壁面液膜”,或 “每次迭代中,VOF 相仅有 10%    的比例会转化为液膜”(数值越小,VOF→液膜的转化越难触发,或每次转化的质量比例越低)。


   图片
 

求解器设置:


   图片
 

-在任务页面(TaskPage)中,启用 “Non-Iterative Time Advancement (NITA)”,NITA 求解器通常比 Fluent  默认的迭代型时间推进求解器更快,适合加速瞬态或稳态仿真的计算效率,启用 “conservative Hybrid NITA”“守恒型”   意味着该求解器在时间推进过程中,会更严格地满足质量、动量等物理量的守恒定律,进一步提升结果的物理合理性;

-启用 VOF 稳定化的两个子设置 ——“Settings Optimization(设置优化)” 和 “Advanced stabilization(高级稳定化)”;

-限制流场中速度的突然 “尖峰”(局部速度骤增),避免因速度突变导致的计算不收敛或结果失真(常见于高速流动、冲击等场景)

全局初始化以及壁面膜模型:


   图片
 

迭代计算:采用adaptive自适应时间步长来进行瞬态计算


   图片
 

勾选Report Simulation Status,可以实现迭代计算过程中实时监控时间步长、总流动时间等变量。

瞬态迭代计算


   图片
 

结果展示


   清洗过程中的速度分布云图图片
 

从成本控制到效率提升,从工艺优化到技术前瞻,Ansys CFD晶圆单片清洗“数字试验场”的价值,本质上是为半导体企业打造了一套“可预测、可量化、可迭代”的清洗工艺开发体系。它不仅破解了传统物理试验的固有局限,更以仿真为纽带,打通了从理论研究到量产应用的全链条,成为先进制程竞争中“降本增效、加速创新”的核心引擎。在半导体技术不断突破的今天,选择Ansys数字试验场,便是选择以更智慧的方式掌控清洗工艺的核心竞争力,为芯片制造的每一步精准护航。


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