通用嵌入式系统测试平台(Embedded System Interface Test Studio,简称: ETest)是针对嵌入式系统进行实时、闭环、非侵入式测试的自动化测试平台,适用于嵌入式系统在设计、仿真、开发、调试、测试、集成验证和维护等各阶段配置项级别和系统级别的动态测试与验证。
ETest提供了针对嵌入式系统的半实物硬件在环仿真测试环境,通过模拟待测系统的外部环境并产生信号输入到待测系统,同时获取并分析待测系统的输出信号,实现针对嵌入式系统的自动化功能测试。
ETest具有适用范围广、通用性强、自动化测试程度高、扩展性好、携带方便、配置灵活、操作简单以及使用成本低等特点,能满足军事工业、工业控制、仪器仪表、汽车电子等各领域嵌入式系统的测试与验证需求。
1.1 ETest主要特点
1.2 ETest主要功能
1.3 ETest架构
平台由软件和硬件两部分组成。软件部分主要包括测试设计软件模块、测试执行服务软件模块、测试执行客户端软件模块、设备资源管理软件模块、各类接口设备调试软件及测试辅助软件等。硬件部分主要包括测试主机、各类接口板卡以及相关设备等。
根据不同的客户需求,平台提供USB模式( ETest-USB)、PCI工控机模式( ETest-PCI)与PXI机箱模式( ETest-PXI)三种类型的架构产品。不同类型架构产品测试主机与接口板卡的形式不同。
1.4 ETest应用领域:
航空航天,武器装备,工控设备,通信设备,车辆电子,智能交通,智能仪表。
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