IS220PAICH1B：完整的过程失效模式影响分析

FPQ报告至少需要五（5）个样本，并完成以下要求：

GE发布图纸（即Gerber文件、裸PCB图纸、装配图等）上规定的所有尺寸的测量。

验证所有部件是否与GE主清单或经批准的材料清单/经批准的供应商清单（BOM/AVL）上列出的供应商和零件号相匹配。

验证所有图纸注释是否符合要求

使用校验和验证正确的软件版本（如适用）。

根据GE SQE的要求，对图纸规定的关键质量（CTQ）参数进行具有量具重复性再现性（GRR）的能力研究。

所有主要制造步骤的工艺产量，以及缺陷的帕累托和适用的纠正措施。

完整且最新的制造工艺计划（MPP）

完整和最新的产品质量计划（PQP）。

完整且最新的过程失效模式影响分析（PFMEA）

GE技术和供应商质量工程师批准的测试策略和覆盖范围

离子色谱测试结果符合离子污染限值。

GE接收现场批准的包装计划。

PCBA的每个单元都应记录已确认的缺陷。每个缺陷记录应包括以下信息，并应至少保存5年：

制造地点

生产线

GE产品标识符

GE产品修订代码

装置序列号

根据IPC-9261或同等标准的缺陷类别

缺陷描述

部件、放置和端接缺陷的部件参考代号（CRD）

 组件、放置和端接缺陷的GE组件零件号

终止缺陷的缺陷数量

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