EO/IR光电红外系统全面概览


本文原刊登于Ansys Blog:《Get an Overview of Electro-Optic Infrared Systems》

作者:Angela Forcino | Ansys 产品营销经理

光电红外(EO/IR)系统是一种传感器技术,其采用光学和电子技术组合来检测、跟踪和识别红外光谱中的物体或目标。EO/IR系统可用于目标获取、跟踪和识别等各种目的。

EO/IR系统可以在各种天气条件和环境下运行,包括雾天、雨天和烟雾环境等。这是因为,这种系统是凭借对红外辐射的检测,而温度高于绝对零度的所有物体都会散发红外辐射。人眼是无法看到红外辐射的,但红外辐射可以被称为红外探测器的专门传感器检测到。EO/IR系统的一大主要优势是,能够在低照明或完全黑暗的条件下工作。因此,它非常适用于传统光学传感器可能不适用的各种情况。此外,EO/IR系统还具有高度准确性,可以提供实时数据和图像,这使其成为了被广泛应用的重要工具。

EO/IR系统通常由三个主要组件构成:

  1. 红外探测器:负责检测目标发出的红外辐射,并将其转换为电信号
  2. 聚焦镜头:用于将红外辐射聚焦到红外探测器上
  3. 显示或成像装置:用于显示结果图像或数据

光电红外系统设计挑战

在设计EO/IR系统时,必须考虑以下几项挑战:

  1. 性能优化:EO/IR系统必须能够在不同的天气条件、时间和环境下有效运行
  2. 尺寸、重量和功耗(SWaP)限制:EO/IR系统通常被应用于尺寸、重量和功耗需被作为关键因素考虑的领域,例如军用飞机或卫星平台
  3. 成本:EO/IR系统的开发和生产成本高昂,因此在设计这些系统时要考虑成本因素
  4. 复杂性:EO/IR系统非常复杂,包含许多不同的组件和子系统,因此必须对其进行集成和测试
  5. 制造:EO/IR系统通常需要专门的制造工艺和技术,这可能对实施和控制带来挑战

上述挑战必须在设计过程中认真考虑并得到妥善解决,确保实现可靠、有效且低成本的系统。

Ansys EO/IR解决方案

为了应对这些挑战,我们借助Ansys Lumerical、Ansys Zemax OpticStudio、Ansys Speos、Ansys AVxcelerate Sensors和Ansys系统工具套件(STK)的一系列功能及特性,帮助设计人员提高EO/IR系统在不同条件和环境下的性能。这些软件工具可以对光子学和光电系统、卫星和飞机系统以及光学系统进行准确仿真和分析,使设计人员能够预测EO/IR系统在不同环境下的性能,并针对特定应用优化其设计。

  • Speos可帮助设计人员分析EO/IR系统在不同天气条件下的性能,如雾天、雨天和烟雾环境等,并针对特定应用优化系统的设计
  • STK有助于设计人员分析EO/IR系统在卫星和飞机平台上的性能,并针对这些应用优化系统的设计
  • OpticStudio使设计人员能够分析光学组件的性能并预测系统在不同环境下的行为,从而优化EO/IR系统的设计
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