课程简介:
在电子产品日新月异的今天,器件功耗越来越大,体积却越来越小,使用环境也日趋恶劣。现在电子产品的使用寿命,是电子行业从业人员需要重点考虑的课题。然而电子产品多热算过热?封装焊球在多少次温度循环后会断裂失效,发生在哪里,失效概率是多少?电子元器件在受振动后会不会发生断裂失效,会满足多少次振动循环?这对于电子工程师而言,都是很难在实际试验测试前给与明确答案的。
在Ansys 收购电子产品可靠性分析软件Sherlock后,以上问题都可以迎刃而解。然而实际电子产品的复杂性和条件不确定性,为准确获得系统电子产品可靠性带来了极大难度。所以,热仿真,机械仿真和可靠性物理学必须结合使用,以最准确地识别/缓解电子组件的故障风险。
讲师简介:
徐志敏,Ansys结构高级应用工程师。在电子行业尤其PCB及封装结构产品可靠性有丰富设计仿真经验,负责Ansys中国CPS结构可靠性方案以及Ansys Sherlock国内技术支持;长期支持国内大型半导体、封装、通讯企业的仿真设计工作。
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